Альтернативные приложения с использованием WDXRF

Этот вебинар посвящен инновационным применениям рентгенофлуоресцентного анализа с дисперсией по длинам волн (WDXRF) за пределами традиционного объемного анализа. Узнайте, как технология XRF может анализировать неизвестные матрицы, безопасно тестировать жидкие образцы, обнаруживать следовые элементы и изучать тонкие пленки и покрытия. Благодаря экспертным знаниям вы узнаете, как передовые методы подготовки образцов и программные решения могут максимально раскрыть потенциал рентгенофлуоресцентной спектроскопии. Рассматриваемые темы: • Принципы рентгенофлуоресцентного анализа и элементного анализа • Метод SQX-рассеяния для анализа неизвестных матриц (отходы, шлам) • Затвердевание масла для более безопасного анализа жидкостей • Методы ультра- и микропереноса для обнаружения следовых элементов • Картирование, анализ малых пятен и анализ рыхлых порошков • Анализ покрытий и тонких пленок Узнайте больше о продукции Rigaku WDXRF на сайте https://rigaku.com/products/xrf-spect... ________________________________________ Главы: 00:00:00 - Введение 00:06:27 - Принципы рентгенофлуоресцентного анализа и методы анализа 00:11:16 - Метод SQX-рассеяния 00:23:04 - Затвердевание масла 00:27:45 - Ультра- и микроперенос 00:39:04 - Картирование и анализ малых пятен 00:43:35 - Анализ рыхлых порошков Порошковая обработка и анализ небольших объемов образцов в вакууме 00:47:52 – Анализ покрытий и тонких пленок 00:56:34 – Требования к спектрометру и краткое изложение 01:01:23 – Вопросы и ответы