Технология инжекции горячих носителей против метода Фаулера-Нордхайма: почему флэш-память выбрала...
Abhijit Pethe
0:00 / 0:00
Технология инжекции горячих носителей против метода Фаулера-Нордхайма: почему флэш-память выбрала...
150 просмотров · 3 недели назад
Abhijit Pethe
1,33 тыс. подписчиков
150 просмотров · 3 недели назад
Флэш-память использует два способа размещения электронов на плавающем затворе. Один из них быстрее и требует меньшего напряжения на затворе. Другой медленнее, требует 15-20 В и практически не расходует носители заряда. Промышленность выбрала более медленный способ — и причина тому чистая физика.
В этой лекции мы подробно разберем прямое сравнение инжекции горячих носителей (HCI) и туннелирования Фаулера-Нордхайма (FN):
▸ Что на самом деле означает «горячий» — носители в 100 раз выше теплового равновесия
▸ Почему повреждения, вызванные HCI, концентрируются в зоне 50 нм на краю стока в каждом цикле
▸ Модель «счастливого электрона» и почему пик тока затвора достигается при Vg = Vd/2
▸ Эффективность инжекции FN ~100% по сравнению с HCI при 10⁻⁴–10⁻⁵ — куда уходит энергия
▸ Как определить механизм повреждения по Id-Vg: наклон подпорогового режима, gm и асимметрия как отличительные признаки
▸ Почему HCI не исчез — он просто переместился из программирования Flash-памяти в режим стресс-тестирования надежности
К концу лекции вы сможете, взглянув на деградировавший Id-Vg, определить, имеете ли вы дело с повреждением, вызванным FN, или с повреждением, вызванным HCI — и почему это важно для характеристик долговечности.
Часть серии «Физика энергонезависимой памяти».
Предыдущая лекция → Туннелирование Фаулера-Нордхайма
Следующая лекция → Узлы хранения с ловушками заряда (SONOS, TANOS, 3D NAND CTF)
───────────────────────────
Временные метки
0:00 Крюк — два механизма, один победитель
1:30 Что такое горячий носитель?
5:00 Физика HCI шаг за шагом
10:00 Сравнение FN и HCI
14:00 Характеристики повреждений и износостойкость
20:00 Чтение Id-Vg для определения «отпечатков пальцев» механизма
26:00 Почему HCI по-прежнему актуален сегодня
30:00 Резюме и переход к C5
──────────────────────────
#ФизикаПолупроводников #ФлэшПамять #MOSFET #ИнжекцияГорячихНильщиков #FowlerNordheim #ЭнергонезависимаяПамять #NAND #Электротехника #ФизикаУстройств