Введение в рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию (РФЭС)

Лаборатория характеризации материалов: Метод рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS) Этот метод основан на фотоэлектрическом эффекте. При облучении материала рентгеновскими лучами фотоэлектроны впоследствии выбиваются из атомов вблизи поверхности. Подпишитесь на канал Penn State MRI, чтобы смотреть больше видео:    / pennstatemri   Плейлист YouTube с серией видео о методах характеризации MCL:    • MCL Characterization Techniques Series   Лаборатория характеризации материалов https://www.mri.psu.edu/materials-cha... Методы характеризации материалов https://www.mri.psu.edu/materials-cha... СЛЕДИТЕ ЗА НАМИ: LinkedIn: /in/PennStateMRI YouTube: /c/PennStateMRI Instagram: @PennStateMRI Twitter: @PennStateMRI Подписаться Подпишитесь на наши рассылки: https://www.mri.psu.edu/opt Институт материаловедения Университета штата Пенсильвания https://www.mri.psu.edu/