Почему некоторые пики на рентгенограммах уширены? Размер, микронапряжения и уравнение Шеррера

Две дифракционные картины, один и тот же материал, один и тот же прибор, но одна имеет острые как иглы пики, а другая выглядит как холмистая местность. Разница скрыта в ширине пиков, и большинство людей не учитывают эту информацию. В этом видео мы подробно рассмотрим один пик рентгеновской дифракции, чтобы понять, откуда берется уширение и что оно может рассказать о вашем образце. Мы рассмотрим, как измерить ширину пика (FWHM и интегральную ширину), гауссову и лоренцеву формы пиков, псевдо-функцию Войта, а также три составляющие, которые свертываются, чтобы дать измеренную ширину: прибор, длина волны (Kα1/Kα2) и сам образец. Затем мы углубимся в уширение, вызванное размером кристаллитов, с помощью уравнения Шеррера, уширение, вызванное микродеформацией, и как разделить эти два явления с помощью графика Уильямсона-Холла, включая нюансы, связанные с каждым из них. Это часть плейлиста «Объяснение характеристик материалов». Далее: уточнение по методу Ритвельда, где мы подгоняем всю дифракционную картину сразу. Временные метки 0:00 Один и тот же материал, разные пики 0:39 Измерение ширины пика: FWHM и интегральная ширина 1:00 Форма пика: гауссова, лоренцева, псевдо-войтовская 1:27 Три источника уширения 1:47 Инструментальное уширение и стандарты 3:07 Уширение по длине волны: Kα1 и Kα2 3:49 Размер кристаллитов и уравнение Шеррера 5:25 Уширение, вызванное микродеформацией 6:10 Разделение размера и деформации: график Уильямсона-Холла 7:27 Итоги и что дальше Плейлист «Объяснение характеристик материалов»:    • Materials Characterization Explained   Предыдущее видео об оптике рентгеновской дифракции:    • X-Ray Diffraction Optics Explained: Every ...   #XRD #РентгеновскаяДифракция #Материаловедение #Кристаллография #ХарактеристикаМатериалов