Растровый электронный микроскоп: часть 4 из 6

Сканирующий электронный микроскоп используется для получения изображений поверхности проводящего образца путем сканирования его высокоэнергетическим пучком электронов. Некоторые СЭМ имеют дополнительные программные улучшения, позволяющие фокусировать пучок на фотошаблоне для электронно-лучевой литографии, или оснащены для обработки сфокусированным ионным пучком (FIB). Это видео является частью 4 из 6 частей серии. Более подробная информация на вики CMDITR: http://depts.washington.edu/cmditr/me...