Вебинар: Введение в профилирование лазерного луча

Изучите основы профилирования лазерного луча: 00:00 Введение 00:20 Профилировщики луча на основе камер 00:38 Зачем измерять лазерный луч? 06:14 Что такое пиксель камеры? 07:09 Подробнее о датчиках CCD и CMOS 08:23 Почему компания Ophir использует множество различных камер? 10:34 Что такое пространственный профиль интенсивности? 11:57 Результаты лазерных измерений 15:41 Рекомендации: Коррекция базовой линии камеры с помощью Spiricon Ultracal™ 18:35 Рекомендации: Использование программных апертур для уменьшения неопределенности измерений 20:39 BeamMaker® — интегрированный инструмент моделирования луча 21:21 Ослабление лазера с помощью профилировщиков на основе камер 22:37 Рекомендации: Регулировка оптического ослабления для максимизации отношения сигнал/шум 24:06 Интеграция калиброванного измерения мощности лазера 24:35 BeamGage Automation SDK 28:53 Профилировщики луча с помощью сканирующей щели 30:21 Внутри сканирующей головки NanoScan 32:00 Преимущества профилировщика сканирующей щели 32:45 Различия между данными камеры и данными сканирующей щели 34:44 Рекомендации: Выравнивание сканирующей головки относительно лазера 35:51 Программное обеспечение для профилирования луча NanoScan v2 37:02 Пространственная интенсивность Профили против суммарных энергетических профилей 37:29 Результаты лазерных измерений 38:11 Ослабление лазера с помощью сканирующих щелевых профилографов 39:22 SDK для автоматизации NanoScan 43:52 Измерение распространения луча (M²) 45:48 Что такое измерение M²? 47:27 Ручные методы измерения качества пучка 48:02 Автоматизированное измерение M² с помощью системы Ophir BeamSquared 51:27 Инструменты в программном обеспечении BeamSquared 53:41 Результаты распространения пучка 55:09 Рекомендации: Выбор оптимальных мест измерения 56:38 Рекомендации: Осевая юстировка пучка 58:25 Высокомощное бесконтактное измерение M² с помощью системы Ophir BeamWatch Полезные ссылки: Профилирование пучка с помощью камеры https://www.ophiropt.com/en/c/beamgag... Начало работы с BeamGage    • BeamGage Tutorial:  Getting Started with B...   Учебные пособия по BeamGage YouTube    • 1 Introduction      / @ophirspiricon   Подробный анализ профилирования луча камеры Сравнение аналогичных технологий: какие технологии камер лучше всего подходят для приложений профилирования луча Автор: G.E. Слободзян, бывший директор по инженерии, Ophir-Spiricon Часть 1: Какие технологии камер лучше всего подходят для профилирования пучка https://www.ophiropt.com/en/a/camera-... Часть 2: Базовые методы и модовые эффекты https://www.ophiropt.com/en/a/camera-... Часть 3: Методы апертуры пучка https://www.ophiropt.com/en/a/camera-... Часть 4: Сканирующие щелевые анализаторы против анализаторов пучка на основе камер https://www.ophiropt.com/en/a/scannin... Профилирование с помощью сканирующей щели https://www.ophiropt.com/en/c/nanosca... Профилировщик щели NanoScan 2s Демонстрация    • NanoScan 2s Slit Profiler Demonstration   M² – Продукты для анализа распространения лазерного луча https://www.ophiropt.com/en/c/beamsqu... BeamSquared для анализа распространения лазерного луча    • M2 BeamSquared for Analysis of Laser Beam ...   Распространение луча M²: почему так много разных подходов? https://www.ophiropt.com/laser--measu...