Урок по ImageJ: Определение расстояний между атомными плоскостями на HR-TEM изображениях с помощь...

Примеры изображений TEM: https://drive.google.com/file/d/1VKrY... Добро пожаловать в видеосерию «AMC-Tec»! В этом уроке я демонстрирую, как использовать функцию быстрого преобразования Фурье (БПФ) в программе ImageJ для точного измерения расстояний между атомными плоскостями на изображениях высокого разрешения, полученных с помощью просвечивающей электронной микроскопии (HR-TEM). Видео начинается с введения в изображения TEM и освещает проблемы, связанные с фоновым шумом при анализе атомных плоскостей. Используя ImageJ, я покажу вам процесс визуализации атомных плоскостей и анализа профилей линий для оценки периодической информации. Я объясняю, как фоновый шум может вызывать несоответствия в измерениях, и показываю, как функция БПФ помогает удалить шум, сохраняя при этом детали атомных плоскостей. Пошаговое руководство включает в себя: Настройка шкалы: Узнайте, как откалибровать ImageJ для точных измерений. Преобразование Фурье: Узнайте, как создать изображение, преобразованное Фурье, и интерпретировать информацию в частотной области, включая идентификацию ярких пятен, представляющих повторяющиеся измерения. Определение расстояний между плоскостями: Поймите, как извлечь значение «r» из строки состояния, представляющее расстояние между атомными плоскостями в нанометрах, и завершите процесс здесь, если дальнейший анализ не требуется. Улучшение для публикаций: Выполните дополнительные шаги, чтобы выделить яркие пятна на изображении Фурье, применить корректировку порогового значения и выполнить обратное БПФ для получения изображения без шума, идеально подходящего для публикаций. Видео также включает практическую демонстрацию измерения расстояний между атомными плоскостями с использованием линейных профилей. Проведя линию, перпендикулярную плоскостям, и рассчитав интервалы между пиками, я проверяю однородность преобразованного изображения и определяю точное расстояние приблизительно 0,2 нм между атомными плоскостями. Независимо от того, являетесь ли вы студентом, исследователем или материаловедом, этот учебник предоставит важные сведения об анализе изображений HR-TEM с помощью ImageJ. Это видео идеально подходит для повышения ваших навыков анализа изображений в электронной микроскопии. Оно сочетает теоретические концепты с практическими методами, гарантируя точные результаты для ваших исследований или публикаций. Не стесняйтесь задавать вопросы в комментариях, и не забудьте посмотреть другие видео из серии «AMC-Tec» для получения дополнительных уроков по ImageJ и советов по микроскопии. Спасибо за просмотр! #ImageJ #HR-TEM #Высокоразрешающая просвечивающая электронная микроскопия #FFT #Преобразование Фурье #Измерение расстояния между атомными плоскостями #TEM