Развитие метода EBSD для чувствительных к пучку материалов: от шума к ценным выводам.

Дифракция обратнорассеянных электронов (EBSD) — мощный метод, позволяющий получить подробную информацию о микроструктуре образца, включая ориентацию кристаллов и распределение фаз в наномасштабе. Благодаря высокому пространственному разрешению и надежности, EBSD широко используется в минералогии, химии твердого состояния и других областях. Однако, как и любой метод, EBSD имеет свои ограничения. Поскольку для его работы требуется сильный сигнал, EBSD требует высоких доз электронного пучка, которые не каждый материал может выдержать. Это затрудняет применение EBSD к чувствительным к пучку материалам, таким как органические перовскиты, которые являются перспективными материалами для солнечных элементов. В этом вебинаре мы представим стратегии преодоления этих ограничений с использованием системы EDAX Clarity с гибридным пиксельным детектором, что позволит проводить EBSD с низкими дозами на перовскитах и ​​других чувствительных к пучку материалах, а также продемонстрируем результаты, полученные путем сочетания этой высокочувствительной системы со сферическим индексированием в анализе EDAX OIM.