Фотоэлектрический эффект, фотоэлектронная спектроскопия, фотоэлектронная микроскопия

В этой короткой лекции рассматриваются фотоэлектрический эффект, фотоэлектронная спектроскопия (XPS) и сканирующая фотоэлектронная микроскопия (SPEM). Фотоэлектрический эффект возникает, когда электроны внутренних оболочек атомов образца выбиваются высокоэнергетическим электромагнитным излучением. Эти выбитые электроны называются фотоэлектронами, и их энергия зависит от энергии возбуждающего излучения, начальной энергии связи электронов и от работы выхода. При наличии источника излучения с четко определенной энергией и измерении энергии испускаемых электронов можно получить информацию о составе и химическом состоянии образца. В случае фотоэлектронной микроскопии возбуждающий пучок фокусируется в узкое пятно на поверхности образца. Затем образец перемещается таким образом, что пятно перемещается построчно по поверхности образца, и в результате из каждого облученного пятна испускаются фотоэлектроны. Собирая эти фотоэлектроны, можно составить карту состава или химического состояния на выбранной области образца (например, область 100 x 100 микрон на образце 2 x 2 см). Фотоэлектроны могут покидать материал только вблизи поверхности, а это означает, что эти методы очень чувствительны к поверхности, что делает их чрезвычайно полезными для исследований поверхности. Это также означает, что поверхности должны быть очень чистыми (очищенными ионной бомбардировкой перед измерениями), и поэтому необходим сверхвысокий вакуум. Это видео создано в сотрудничестве с Институтом физики Тартуского университета. Музыка: http://www.bensound.com/royalty-free-... Канал:    / maidomerisalu   Facebook:   / captaincorrosion   Веб-сайт: http://captaincorrosion.com/ Для монтажа, спецэффектов, музыки и звуковых эффектов использовался пакет программ Sony Vegas Pro 13 (подробнее об этом наборе программ см. по ссылке): http://click.linksynergy.com/fs-bin/c...