XPS — Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS) — это простое объяснение принципа её работы, что показывает спектр XPS и как определить, какие элементы и химические состояния находятся на поверхности образца. XPS — один из стандартных инструментов для характеризации поверхности. Он чувствителен к поверхности: анализирует только верхние ~5–10 нм материала. Спектр XPS представляет собой график количества электронов, обнаруженных при каждой энергии связи. Он работает на основе фотоэлектрического эффекта: KE = hν − (BE + φ) Вы узнаете: ✔ Что такое XPS и почему он чувствителен к поверхности ✔ Фотоэлектрический принцип, лежащий в основе XPS (KE, BE и работа выхода) ✔ Как рентгеновские лучи выбивают электроны внутренних оболочек (1s, 2s, 2p…) ✔ Как читать спектр XPS и пики энергии связи ✔ Что показывает XPS: элементный состав и химическое состояние Полезно для студентов и исследователей в области материаловедения, химии, физики и нанотехнологий, которые используют XPS в своих диссертациях или научных работах. 📌 Похожие видео: ▶ Как интерпретировать изображения TEM, HRTEM и SAED:    • How to Interpret TEM, HRTEM & SAED Images ...   ▶ Почему XRD и TEM дают разные размеры (кристаллиты, зерна и частицы):    • Why XRD and TEM Give Different Sizes (Crys...   ▶ Фотолюминесцентная спектроскопия (PL):    • Photo-luminescence (PL) Spectroscopy   🎬 Больше видео по характеризации:    • TEM, HRTEM, SAED & XRD Explained | Nanomat...   🔔 Подпишитесь на Nano Speaks, чтобы получать понятные объяснения методов характеризации и наноматериалов. #XPS #РентгеновскаяФотоэлектроннаяСпектроскопия #АнализПоверхности #ХарактеристикаМатериалов #Нанотехнологии