Корреляционная микроскопия на основе EBSD

Корреляционная микроскопия — это метод, при котором одна и та же область образца исследуется с использованием различных методик. Это позволяет связать различные свойства материала с конкретными аспектами микроструктуры. Поскольку дифракция обратного рассеяния электронов (EBSD) предоставляет важную информацию о кристаллографической ориентации, сопоставление результатов EBSD с другими методами характеризации позволяет исследователю получить критически важное представление о роли кристаллографической ориентации в свойствах материала. Этот вебинар предоставит пошаговые инструкции по использованию инструментов EDAX OIM Analysis™ для корреляции результатов EBSD с другими методами визуализации. В этом руководстве будут показаны примеры корреляции данных EBSD с изображениями и данными микро-рамановской спектроскопии, микротвердости, контрастной визуализации электронного каналирования (ECCI), высокоразрешающей кросс-корреляционной EBSD (HR-EBSD), микро-цифровой корреляции изображений (DIC), микро-катодолюминесценции (CL) и оптической микроскопии. Будут рассмотрены некоторые проблемы, связанные с корреляцией изображений, полученных при геометрических параметрах, отличающихся от тех, которые обычно используются для EBSD.